華測zuixin研發(fā)高低溫冷熱臺(tái)測試儀器?

華測zuixin‍研發(fā)高低溫冷熱臺(tái)測試儀器

它在根本上解決了高低溫環(huán)境下的電學(xué)測量jing準(zhǔn)度

     Huace650T高低溫冷熱臺(tái)在借鑒國際zuixianjin的測試方法的基礎(chǔ)上，由華測儀器多位工程師多年開發(fā)，其具有更多的測試功能，冷熱臺(tái)可配合阻抗分析儀、高阻計(jì)、電化學(xué)工作 站、數(shù)字原表設(shè)備進(jìn)行功能材料電學(xué)的相關(guān)測試，采用直接聯(lián)接測試儀表以減少測試導(dǎo)線的影響，同時(shí)電加熱采用直流電加熱方式，減少電網(wǎng)諧波對測量儀表的干擾。在某些技術(shù)指標(biāo)超過儀器，，同時(shí)測試功能上也增加了電阻測試、TSDC等測量功能。它能夠在不同測量條件和測量模式下進(jìn)行連續(xù)和高速的測量，僅用一臺(tái)Huace450P高低溫冷熱臺(tái)就能取代功能材料測試眾多儀器的高低溫電學(xué)的測量功能！

Huace650T高低溫冷熱臺(tái)也可搭配顯微鏡/光譜儀使用。其可在 -185℃ ~ 600℃ 范圍內(nèi)控溫，同時(shí)允許進(jìn)行電學(xué)測試、光學(xué)觀察和樣品氣體環(huán)境控制。探針臺(tái)上蓋與底殼構(gòu)成一個(gè)氣密腔，可往內(nèi)充入氮?dú)獾缺Ｗo(hù)氣體，來防止樣品在負(fù)溫下結(jié)霜，或高溫下氧化。也可搭配阻抗分析儀、高阻計(jì)、源表等進(jìn)行相關(guān)電參數(shù)測量。使用時(shí)還可對樣品氣氛進(jìn)行控制。這樣既可以保證，即使在很低溫度下，腔體也不產(chǎn)生結(jié)霜影響實(shí)驗(yàn)，又可以防止樣品發(fā)生氧化。此款溫控探針臺(tái)通過杠桿式支架（可根據(jù)用戶測量要求定制用電），相比傳統(tǒng)的直針探針，這種設(shè)計(jì)不僅點(diǎn)針更，而且點(diǎn)針力度更大，和樣品的電接觸性更好。

 可按用戶要求訂制非標(biāo)產(chǎn)品

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