可測(cè)薄膜的電弱點(diǎn)測(cè)試儀器

產(chǎn)品型號(hào)：

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

所在地：北京市

更新日期：2024-08-30

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

電弱點(diǎn)測(cè)試儀

一、電弱點(diǎn)測(cè)試儀工作原理：

  電弱點(diǎn)測(cè)試儀，本測(cè)試儀試驗(yàn)電壓是0－20kV交直流電壓，其波動(dòng)為±1%。測(cè)試儀在試樣弱點(diǎn)擊穿后約0.1s內(nèi)使電壓回升到原來(lái)設(shè)定的電壓。銅輥為下電極，導(dǎo)電橡膠為上電極。薄膜以3m/min的速度移動(dòng)。遇弱點(diǎn)時(shí)擊穿，擊穿點(diǎn)自動(dòng)累積計(jì)數(shù)。膜移動(dòng)以平方數(shù)自動(dòng)計(jì)數(shù)。

二、電弱點(diǎn)測(cè)試儀主要特點(diǎn):

1、能根據(jù)薄膜的使用寬度進(jìn)行電弱點(diǎn)的測(cè)試，測(cè)試寬度可根據(jù)用戶的要求而設(shè)定，無(wú)須將膜分切成小卷，免除了許多外來(lái)因素對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響。

2、測(cè)試數(shù)據(jù)能真實(shí)地反映薄膜的質(zhì)量水平。

3、主要元器件均選用品牌（如歐姆龍，美信，ABB等），有效地保證了設(shè)備的可靠性、耐用性和穩(wěn)定性。

4、測(cè)量，復(fù)現(xiàn)性好。

5、測(cè)試過(guò)程采用電子技術(shù)全自動(dòng)控制，遇到電弱點(diǎn)時(shí)電壓切斷動(dòng)作迅速。

6、擊穿電流在0～40mA連續(xù)可調(diào)，復(fù)現(xiàn)性好。

7、多重保護(hù)功能，充分考慮了操作人員及設(shè)備的安全性。

8、過(guò)壓、過(guò)流、接地保護(hù)，試驗(yàn)平臺(tái)門(mén)開(kāi)啟保護(hù)。

三、電弱點(diǎn)測(cè)試儀儀器參數(shù)：

四、電弱點(diǎn)測(cè)試儀儀器結(jié)構(gòu)：

  電弱點(diǎn)測(cè)試儀外形為柜狀一體化設(shè)計(jì)，左側(cè)為走膜及加壓裝置，右側(cè)為控制系統(tǒng)及操作面板。走膜裝置、絕緣導(dǎo)向輥、速度檢測(cè)輥等構(gòu)成面積檢測(cè)系統(tǒng)；加壓裝置、漏電流采樣電阻等構(gòu)成電弱點(diǎn)檢測(cè)系統(tǒng)。

五、電弱點(diǎn)測(cè)試儀功能特點(diǎn)：

1電弱點(diǎn)測(cè)試儀，本產(chǎn)品采用新智能控制技術(shù)，通過(guò)選擇程序（IEC或ASTM）可自動(dòng)進(jìn)行試驗(yàn)，并在工業(yè)觸摸屏顯示試驗(yàn)過(guò)程和結(jié)果。  

2控制系統(tǒng)采用的PLC和觸摸屏通信進(jìn)行控制。  

3安全性能良好，抗干擾力強(qiáng)，測(cè)試精度高。  

4自動(dòng)化程度高，按照設(shè)定的試驗(yàn)要求，自動(dòng)升壓到設(shè)定的電壓后，自動(dòng)完成試驗(yàn)并自動(dòng)歸零。  

5電弱點(diǎn)測(cè)試儀電壓和電流具有自動(dòng)校驗(yàn)功能，方便計(jì)量和校準(zhǔn)。

可測(cè)薄膜的電弱點(diǎn)測(cè)試儀器

可測(cè)薄膜的電弱點(diǎn)測(cè)試儀器