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2019-02-25
高溫鐵電測(cè)試儀一高溫鐵電測(cè)試儀簡(jiǎn)介：鐵電材料參數(shù)測(cè)試儀主要是由正弦波、三角波、間歇三角波、梯形波發(fā)生器及正、負(fù)矩形脈沖和雙極性雙脈沖發(fā)生器外加鐵電材料電滯回線、I-V特性及開(kāi)關(guān)特性測(cè)量電路構(gòu)成。適用于鐵電薄膜、鐵電體材料的電性能測(cè)量，可測(cè)量鐵電薄膜電滯回線、I-V特性及開(kāi)關(guān)特性，可測(cè)出具有非對(duì)稱電滯回線鐵電薄膜的Pr值。可測(cè)鐵電體材料的電滯回線及IV特性。同時(shí)也可作為一臺(tái)通用信號(hào)發(fā)生器、高壓信號(hào)發(fā)生器使用。二系統(tǒng)：本測(cè)試系統(tǒng)采用虛地模式測(cè)量電路，與傳統(tǒng)的Sawyer-Towe...2019-02-22
HCJDCS-B型高頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介HCJDCS-B介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀是根據(jù)GB/T1409《測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長(zhǎng)在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的試驗(yàn)方法》（等效采用IEC60250）設(shè)計(jì)和制造的，并符合JB7770等試驗(yàn)方法。介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷的一項(xiàng)重要的物理性質(zhì)，通過(guò)測(cè)定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)（ε），可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)；該儀器廣泛...2019-02-22
北京華測(cè)高阻高壓表試驗(yàn)機(jī)一北京華測(cè)高阻高壓表試驗(yàn)機(jī)產(chǎn)品型號(hào)：Huace105-30G:輸入內(nèi)阻30G,測(cè)量DCHuace105-100G：輸入內(nèi)阻100G,測(cè)量DCHuace10-30G：輸入內(nèi)阻30G，可測(cè)量DC/ACHuace10-100G：輸入內(nèi)阻100G，可測(cè)量DC/AC二北京華測(cè)高阻高壓表試驗(yàn)機(jī)概述：1、本高壓表的主要特點(diǎn)是*的輸入阻抗，輸入阻抗超過(guò)3萬(wàn)兆歐姆(≥30000MΩ)，幾乎對(duì)被測(cè)量對(duì)象沒(méi)有影響，而且測(cè)量范圍寬、度高，高達(dá)1V的分辨率。2、北京華測(cè)高阻高壓...2019-02-21
四探針測(cè)試儀進(jìn)行測(cè)試的幾個(gè)注意事項(xiàng)四探針電阻率測(cè)試儀特點(diǎn)是主機(jī)配置雙數(shù)字表，在測(cè)量電阻率的同時(shí)，另一塊數(shù)字表(以萬(wàn)分之幾的精度)適時(shí)監(jiān)測(cè)全程的電流變化，免除了測(cè)量電流/測(cè)量電阻率的轉(zhuǎn)換，更及時(shí)掌控測(cè)量電流。主機(jī)還提供精度為0.05%的恒流源，使測(cè)量電流高度穩(wěn)定。四探針電阻率測(cè)試儀測(cè)試四探針筆方法：一般情況下，更換鋼針之類，不需要拆開(kāi)探頭，只需要用拔出要更換的鋼針，再重新安裝新針，如果斷針在孔內(nèi)并且不拆開(kāi)難以取出，必須按照以下步驟進(jìn)行操作：1、先松開(kāi)筆身尾部端側(cè)面的固定小螺絲，...2019-02-20
為了提高鐵電材料性能測(cè)試設(shè)備的集成度、重復(fù)性和極化安全性，鐵電材料測(cè)試系統(tǒng)的硬件結(jié)構(gòu)與設(shè)計(jì)原則和思路，主要包括極化裝置的設(shè)計(jì)與加工、積分放大電路的設(shè)計(jì)、硬件之間的連接、分析軟件的編寫(xiě)、軟硬件之間的通訊等。實(shí)現(xiàn)在不同溫度點(diǎn)下，封閉式安全極化及電滯回線的數(shù)據(jù)采集與處理。*中檔產(chǎn)品的空白,造價(jià)是設(shè)備的1/3，但精度相當(dāng)。本公司工程師利用數(shù)字存儲(chǔ)示波器研制了一套鐵電材料測(cè)試系統(tǒng)，完成了對(duì)鐵電材料電滯回線的測(cè)量、存儲(chǔ)、顯示、編輯、打印和電性能參數(shù)的計(jì)算等功能。鐵電材料測(cè)試系統(tǒng)?是一臺(tái)測(cè)...2019-02-19
關(guān)于四探針電阻率測(cè)試儀的使用四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量裝置，可以測(cè)量硅、鍺單晶電阻率和硅外延層、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻以及測(cè)量導(dǎo)電玻璃和其他導(dǎo)電薄膜的方塊電阻，主要用于評(píng)估半導(dǎo)體薄膜和薄片的導(dǎo)電性能。廣泛用于半導(dǎo)體廠家、太陽(yáng)能行業(yè)，還能滿足科研單位的精密研究。四探針電阻率測(cè)試儀測(cè)試四探針筆方法：一般情況下，更換鋼針之類，不需要拆開(kāi)探頭，只需要用拔出要更換的鋼針，再重新安裝新針，如果斷針在孔內(nèi)并且不拆開(kāi)難以取出，必須按照以下步驟進(jìn)行操作：1、先松開(kāi)筆...2019-02-19
介電常數(shù)測(cè)試儀測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)介電常數(shù)測(cè)試儀是通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試儀器。它以單片計(jì)算機(jī)作為儀器的控制、測(cè)量核心，真正實(shí)現(xiàn)了Q值的數(shù)字化，電容、電感、Q值、信號(hào)源頻率都在一個(gè)液晶屏上展示出來(lái)。介電常數(shù)測(cè)試儀測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)GB7265.2-1987固體電介質(zhì)微波復(fù)介電常數(shù)的測(cè)試方法“開(kāi)式腔”法GB11310-1989壓電陶瓷材料性能測(cè)試方法相對(duì)自由介電常數(shù)溫度特性的測(cè)試GB_T5594.4-2015電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測(cè)試方法第4部分：介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測(cè)試方法GB_...
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